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波片延迟仪-Zebra 500
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波片延迟仪-Zebra 500
相关介绍

Zebra波片延迟度检测仪针对科研和工业客户提供高精度全自动波片相位延迟度测量。本设备操作简单,检测过程迅速,配套软件中集成了波片设计功能,检测报告自动生成功能,对客户的整个产品生产过程提供全面的服务。


Features

检测类型多样

本设计具有测试精度高,测试数据稳定的特点,非常适合波片类产品的延迟度检测,具有多种检测方式可选择,可根据客户的需求灵活选择。


快速测量

快速的采样方法、高信噪比的信号探测、自动化的测量软件,在保证高精度和准确度的同时,20秒内快速单次测量


波片设计

测量软件中集成了波片设计程序,可以方便的进行单点、多点、宽带波片,胶合波片等的设计。


一键式检测,并生成测试报告

本设计配有操作软件,软件界面简洁,操作方便,使得任何人都可以轻而易举的完成产品的检测,并能够生成客户定制的测试报告。


Applications

 本设计适合于科研和工业产品环境中的产品过程以及最终检测,用于检测波片或者其他偏振器件的相位延迟,有检测精度高,测试波长灵活的优点。


1:可以用于检测波片等具有0度入射角的产品的延迟度角。

  2:可以检测不同材料,不同级别以及胶合波片

3:可以用于检测产品镀膜的相位漂移

4:可以进行波片设计


Specifications

设备型号

Zebra 500

波长范围

400-1640nm

单次测量时间

典型20s-120s,取决于测量对象

光源?椴ǔ

520nm (typical)

测量精度

优于1/500wave

动态测量重复性

优于1/600wave

静态测量重复性

优于1/700wave

入射角度

0度

光学结构

PSCA

样品台尺寸

可放置样品尺寸:直径150 mm

设备尺寸

670mm X 500mm X 500mm

工作温度

23+/-3℃

Zebra 500检测报告


一:测试样品(Sample

石英波片


二:测试设备与条件(Equipment and Factor)

Zebra 500波片延迟度测量仪

WAP_Thinker 延迟度测试软件

波长521.5nm激光?, 温度28.5


三:测试方法(Method

1:产品不移动,多次检测,用于分析设备检测的重复性

2:取放产品检测,考虑到人员因素,环境因素的设备检测的精度


四: 测试数据

 

1: 重复测试数据

测试样品:5片不同级次与延迟度的石英波片,每片测量3

测试项目:波片相位延迟度,光轴角度

测试结果:测量重复性优于1/700WAVE,光轴定位精度优于±1°


重复性测试

延迟度数据(°)

Difference

1

2

3

1

60.5323

60.5637

60.7778

0.2455

2

60.894

60.9846

60.7779

0.2067

3

60.864

60.9089

60.586

0.3229

4

33.7668

33.7426

33.6609

0.1059

5

33.6153

33.5718

33.5751

0.0435

6

33.6592

33.7607

33.7638

0.1046

7

79.5372

79.3809

79.366

0.1712

8

79.0687

78.6525

79.02144

0.4162

9

79.0025

79.0069

78.9225

0.0844

10

291.3747

291.5809

291.7571

0.3824

11

291.5542

291.9964

291.8689

0.4422

12

291.4957

291.687

291.7931

0.2974

13

288.4781

288.322

288.4181

0.1561

14

288.7203

288.6304

288.6122

0.1081

15

288.8569

288.6061

288.6585

0.2508

公差(+/-)(3sigema) 

 

 

0.228702

 

 

 

 

1/787WAVE


重复性测试

光轴角测量数据(°)

Difference

1

2

3

1

66.4652

66.4161

66.6581

0.242

2

67.3735

67.4286

66.6581

0.7705

3

67.5821

67.6029

67.6525

0.0704

4

45.1771

45.0778

44.7052

0.4719

5

44.9095

45.111

45.3719

0.4624

6

44.6815

45.1267

45.7648

1.0833

7

48.8578

48.8861

48.8546

0.0315

8

43.338

43.3162

43.259

0.079

9

46.7821

46.7187

46.6116

0.1705

10

138.7836

138.8357

139.1634

0.3798

11

138.9208

138.7756

138.339

0.5818

12

138.1988

138.2756

138.44

0.2412

13

136.4343

136.4503

136.588

0.1537

14

137.3905

137.4747

137.5578

0.1673

15

137.4353

136.3259

136.2877

1.1476

公差(+/-)
(3sigema)

 

 

 

0.84261


2:精度测试分析

测试样品:共5片不同级次与延迟度的波片,每片取放测量9

测试项目:波片相位延迟度,光轴角度

测试结果:其测量重复性优于1/500WAVE要求


测量次数

样品

1

2

3

4

5

1

60.5423

33.7318

79.5642

291.4237

288.7032

2

60.5737

33.6626

79.4814

291.3842

288.531

3

60.6758

33.7613

79.3614

291.5566

288.3181

4

60.794

33.5153

79.4687

291.5412

288.5403

5

60.8956

33.5518

79.0525

291.8964

288.6304

6

60.7779

33.7251

79.0112

291.8743

288.8162

7

60.864

33.7312

79.1035

291.3957

288.6137

8

60.9089

33.4083

79.5069

291.287

288.4161

9

60.586

33.5928

78.9885

291.4961

288.5565

公差(+/-)

 

 

 

 

0.2987

(3sigema)

 

 

 

 

1/603wave

 

五:测试结论


按照3倍标准方差分析, Zebra500设备精度优于1/500wave,光轴角测量精度优于2度。







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